海伯森應(yīng)用案例之–屏幕高精度3D缺陷檢測(cè)
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屏幕缺陷檢測(cè)實(shí)質(zhì)上是一套融合質(zhì)量工程、數(shù)據(jù)科學(xué)和商業(yè)戰(zhàn)略的綜合性管理體系。它不僅是生產(chǎn)線上一個(gè)技術(shù)性的“質(zhì)檢步驟”,更是企業(yè)構(gòu)建質(zhì)量護(hù)城河、維護(hù)商業(yè)信譽(yù)、實(shí)現(xiàn)降本增效和風(fēng)險(xiǎn)規(guī)避的核心手段。在產(chǎn)品質(zhì)量日益成為企業(yè)生命線的當(dāng)下,對(duì)其投入與優(yōu)化直接關(guān)系到企業(yè)在產(chǎn)業(yè)鏈中的競(jìng)爭(zhēng)地位和生存發(fā)展空間。
1. 對(duì)企業(yè):控制成本與提升效率
這是企業(yè)投入自動(dòng)化檢測(cè)最直接、最現(xiàn)實(shí)的原因。
大幅降低生產(chǎn)成本(“早發(fā)現(xiàn),早止損”):
這是最關(guān)鍵的經(jīng)濟(jì)學(xué)原理。以6代線面板為例,在Cell段(價(jià)值占比15%)發(fā)現(xiàn)缺陷的止損成本僅為模組段(價(jià)值占比35%)的1/4,到整機(jī)組裝段(價(jià)值占比100%)則放大6.7倍。
極致提升生產(chǎn)效率:
某生產(chǎn)廠家表示人工檢測(cè)平均45秒/片,良率波動(dòng)±2.3%,持續(xù)作業(yè)幾個(gè)小時(shí)需換班。機(jī)器視覺(jué)1秒/片,CPK值穩(wěn)定≥1.67,支持7*24小時(shí)連續(xù)生產(chǎn)。
節(jié)省巨額人力成本:
高質(zhì)量的質(zhì)檢員需要培訓(xùn),薪資成本高,且人員流動(dòng)性大。某OLED廠商部署AI檢測(cè)系統(tǒng)后,單線月產(chǎn)能提升21%,人力成本下降67%。
2. 對(duì)消費(fèi)者:保障體驗(yàn)與權(quán)益顯示技術(shù)高度成熟的今天,消費(fèi)者對(duì)品質(zhì)的期待已被推向極致。他們或許說(shuō)不出“子像素排列”的專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ),但一眼便能分辨出“屏幕是否干凈通透”。
確保優(yōu)質(zhì)用戶體驗(yàn):在智能產(chǎn)品同質(zhì)化嚴(yán)重的今天,卓越的品控已經(jīng)成為最有效的產(chǎn)品差異化策略。那些在屏幕質(zhì)量上持續(xù)投入的品牌,正在收獲用戶忠誠(chéng)度的復(fù)利回報(bào)。
維護(hù)品牌信任:J.D. Power數(shù)據(jù)顯示,每千件產(chǎn)品中屏幕缺陷投訴增加1例,品牌推薦值下降0.8分。采用深度學(xué)習(xí)分類(lèi)的檢測(cè)系統(tǒng)可使客訴率控制在3PPM以下,較傳統(tǒng)方式提升兩個(gè)數(shù)量級(jí)。
3. 數(shù)據(jù)智能:缺陷圖譜的工業(yè)應(yīng)用
當(dāng)檢測(cè)數(shù)據(jù)與制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)全面打通,質(zhì)檢便進(jìn)入了“數(shù)字孿生”時(shí)代——物理世界的生產(chǎn)過(guò)程與數(shù)字世界的分析系統(tǒng)形成實(shí)時(shí)映射關(guān)系:
- 實(shí)時(shí)SPC控制:系統(tǒng)自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制(SPC)圖表,對(duì)關(guān)鍵質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。一旦數(shù)據(jù)偏離可控范圍,系統(tǒng)立即告警,實(shí)現(xiàn)秒級(jí)響應(yīng)。
- 缺陷熱力圖分析:通過(guò)將缺陷位置數(shù)據(jù)疊加到產(chǎn)品圖紙上,生成缺陷分布熱力圖,直觀揭示工藝瓶頸所在。例如,如果屏幕左下角連續(xù)出現(xiàn)密集缺陷,工程團(tuán)隊(duì)可快速排查該區(qū)域?qū)?yīng)的設(shè)備模組。
- 預(yù)測(cè)性維護(hù):基于歷史數(shù)據(jù)建模,系統(tǒng)能夠預(yù)測(cè)設(shè)備異常。某工廠的案例顯示,通過(guò)分析鍍膜機(jī)電機(jī)電流的微小波動(dòng)趨勢(shì),系統(tǒng)成功提前48小時(shí)預(yù)警了一次可能導(dǎo)致批量異常的故障,避免了數(shù)百萬(wàn)元損失。
案例印證:國(guó)內(nèi)某頭部面板廠通過(guò)深度分析三個(gè)月的缺陷數(shù)據(jù),精準(zhǔn)定位了蒸鍍工藝中腔室潔凈度與溫度聯(lián)動(dòng)的關(guān)鍵參數(shù)問(wèn)題。通過(guò)優(yōu)化工藝窗口,將蒸鍍環(huán)節(jié)的不良率從0.3%大幅降低至0.07%。
檢測(cè)需求

掃描測(cè)試屏幕定點(diǎn)處的點(diǎn)、線缺陷
測(cè)試方案

產(chǎn)品選型

測(cè)試過(guò)程
測(cè)試過(guò)程-樣品測(cè)試-1反線

灰度圖

點(diǎn)云圖

3D截面點(diǎn)云示意圖

1D截面示意圖
經(jīng)測(cè)量:畫(huà)線輪廓的高度差為0.72um
測(cè)試過(guò)程-樣品測(cè)試-2反線

灰度圖

點(diǎn)云圖

3D截面點(diǎn)云示意圖

1D截面示意圖
經(jīng)測(cè)量:畫(huà)線輪廓的高度差為1.022um
測(cè)試過(guò)程-樣品測(cè)試-反點(diǎn)1

灰度圖

點(diǎn)云圖

3D截面點(diǎn)云示意圖

1D截面示意圖
經(jīng)測(cè)量:畫(huà)線輪廓的高度差為33.86um
測(cè)試過(guò)程-樣品測(cè)試-反點(diǎn)2

灰度圖

點(diǎn)云圖

3D截面點(diǎn)云示意圖

1D截面示意圖
經(jīng)測(cè)量:畫(huà)線輪廓的高度差為12.98um
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